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超声波探伤仪的基础知识(十八): 缺陷大小的测定和缺陷高度的测定
缺陷定量包括确定缺陷的大小和数量,而缺陷的大小指缺陷的面积和长度。常用的定量方法有当量法、底波高度法和测长法三种。当量法和底波高度法用于缺陷尺寸小于声束截面的情况,测长法用于缺陷尺寸大于声束截面的情况。
一. 当量法测缺陷大小
采用当量法确定的缺陷尺寸是缺陷的当量尺寸,常用的当量法有当量试块比较法、当量计算法和当量AVG曲线法。
1. 当量试块比较法
当量试块比较法是将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法。
此法的优点是直观易懂,当量概念明确,定量比较稳妥可靠。但成本高,操作也较烦琐,很不方便。所以此法应用不多,仅在x<3N的情况下或特别重要零件的精确定量时应用。
2. 当量计算法
当x>3N时,规则反射体的回波声压变化规律基本符合理论回波声压公式,当量计算法就是根据探伤中测得的缺陷波高的dB值,利用各种规则反射体的理论回波声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸的定量方法。
3.当量AVG曲线法
当量AVG曲线法是利用AVG曲线来确定工件中缺陷的当量尺寸。
二. 测长法测缺陷大小
当工件中缺陷尺寸大于声束截面时,一般采用测长法来确定缺陷的长度。
测长法是根据缺陷波高与探头移动距离来确定缺陷的尺寸,按规定的方法测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。由于实际工件中缺陷的取向、性质、表面状态等都会影响缺陷回波高度,因此缺陷的指示长度总是小于或等于缺陷的实际长度。
根据测定缺陷长度时的基准不同将测长法分为相对灵敏度法、绝对灵敏度法和端点峰值法。
三. 底波高度法测缺陷大小
底波高度法是利用缺陷波与底波的相对波高来衡量缺陷的相对大小。当工件中存在缺陷时,由于缺陷的反射,使工件底波下降。缺陷愈大,缺陷波愈高,底波就愈低,缺陷波高与底波高之比就愈大。
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