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缺陷类型及信号特征

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缺陷类型及信号特征
TOFD 检测可以发现的缺陷分为表面开口缺陷和埋藏缺陷两大类。
其中表面开口缺陷可分为:
缺陷类型
信号特征
上表面开口缺陷
直通波传播出现延迟或者消失
无上尖端衍射信号,只有下尖端衍射
下表面开口缺陷
底面回波传播出现延迟或者消失
无下尖端衍射信号,只有上尖端衍射
贯穿性缺陷
所有信号缺失或减小(易与耦合不良的情况混淆)
埋藏缺陷可以分为:
缺陷类型
信号特征
点状缺陷
独立的衍射弧
没有自身高度的缺陷
单个与上尖端衍射相同相位的衍射信号
有自身高度的缺陷
同时具有上尖端和下尖端衍射信号
上述分类划分的依据是缺陷的位置和尺寸,并没有规定缺陷的性质。由于TOFD技术的局限性,根据目前的技术尚无法准确判定缺陷的性质,因此目前的技术和规范并没有要求对发现的缺陷进行定性。
济南三木科仪检测技术有限公司
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