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[技术资讯] CR数字化成像标准及应用研讨会

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发表于 2016-8-26 17:16:04 | 显示全部楼层 |阅读模式
《数字化成像标准及应用研讨会》新闻报道


   2016年8月7日,由重庆市无损检测学会、无损检测设备网和德华材料检测有限公司联合召开的“数字化成像标准及应用研讨会”在重庆长度假日酒店召开。

   此次会议是借由国家新颁布《计算机辅助成像射线检测》标准实施之际,旨在增加对新标准的理解和认识,促进该项新技术在工业领域生产检测中的推广及使用。

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   重庆无损检测学会、无损检测设备网、德华材料检测有限公司、各检测单位的工作人员及德国DUEER公司UIL教授等三十余人出席了此次会议。

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   在会上Uil教授在会议上对欧洲新颁布的17636-2标准中的重点和难点进行了讲解。分析了CR数字成像技术的特点及它在工业中的应用,并将CR技术 与传统的胶片照相成像检测进行了对比。Uil教授在会中还以动画的形式介绍了DUEER公司的情况及该公司CR数字成像设备的特点,并向参会人员演示了该 产品的使用过程。参会专家对产品的使用和性能提出了疑问并进行了讨论。

   在会议的最后,Uil教授接受了无损检测设备网的专访,并对提问进行了耐心的解答,会议圆满结束。


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