【特色服务】Z扫描测试
1. 原理和仪器：图1NLO-Z Z扫描仪NLO-Z是本公司采用目前使用广泛的测量材料光学非线性的 Z 扫描技术，自主研发的新型光学非线性测量仪。该仪器主要用于材料光学非线性吸收和非线性折射性质的测量。通过测量材料在光路中移动时开孔、闭孔能量的变化，同时测量非线性折射和非线性吸收系数，并能确定非线性折射的符号。仪器自动化程度高，实验数据的采集、处理均由计算机控制。该仪器与同类产品相比，具有噪声低，稳定性好，精度高等优点。2. 产品特点：（1）同时确定材料的非线性折射大小和符号、非线性吸收系数；（2）测量波段：可见光～近红外波段 (根据用户所提供激光器的波长决定)；（3）测量精度：非线性折射系数：>10-18(SI)，非线性吸收系数：>10-13(SI)；（4）可选激光:飞秒激光、皮秒激光，可选波长：532nm，800nm，1064nm；（5）自主研发的配套控制软件，可控制样品移动速度，可实现连续移动或按固定步长移动，测量灵敏度高。适用于液体、固体样品的测量；（6）自主研发的数据分析处理软件，界面友好，操作简单。图2：测试结果3. 结果输出：（1）测试数据（2）报告 4. 客户提供：（1）测试样品及测试项目；（2）激光类型+波长；（3）其他要求；（4）反馈数据的报告格式和模板； 5.适用类别：
（1）半导体薄膜材料。（2）无机、有机透明半透明材料。
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