上表面开口缺陷

上表面开口缺陷

上表面开口缺陷会使直通波信号变形。扫查时，探头可能受到工件表面粗糙程度或耦合剂厚度变化的影响，导致直通波上下跳动，影响缺陷的识别。这时需要使用软件对直通波进行拉直处理。为了保存掩盖在直通波下的缺陷信号，应该采取拉直图像的底面波信号，而不是拉直直通波信号。

    有时比较大的裂纹缺陷在表面的开口却很小，表面检测难以判断，这时可以用爬波探头来检测验证，或者通过使用横波斜探头的二次波寻找角反射来验证。