磁粉检测缺陷状况的影响

磁粉检测缺陷状况的影响

缺陷性质的影响
缺陷种类很多，如裂纹、白点、气孔、重皮、夹渣等，这些缺陷由于其介质磁导率不同，进而缺陷产生的漏磁场也不同，这就造成了缺陷磁痕的显示能力不同。

缺陷形状和大小的影响
与磁场方向垂直的线、面状缺陷比气孔等圆形缺陷产生的漏磁场强，易形成磁痕显示，检测灵敏度高。
同等宽度的表面缺陷，在一定范围内漏磁场强度与缺陷的高度成正比，即高度越大，漏磁场越强，检测灵敏度越高。
缺陷方位的影响
缺陷的断面形状、方向及与表面的距离等都影响磁粉探伤的结果。