JB/T 4730.3-2005标准技术差异

JB/T 4730.3-2005标准与国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-432.1，T-532，EN1714-1997-6.3
【2】相关技术内容: （1）ASME规定：探头标称频率应为1~5MHz，如果产品材料晶粒结构等需要，可采用其它频率以保证有足够的穿透力和更好的分辨力，可以使用带接触楔块的探头以有利于超声耦合。
（2）EN1714规定：探头频率应为2~5MHz，但根据需要也可使用其它频率；用横波要求超声波束从底面反射进行检测时，应保证底面反射的声束角度不小于35°，最好不大于70°；使用2个以上探头角度时，声束垂直入射的角度差应≥10°。
【3】简要评述：对探头的通用要求，各标准规定的内容不同，总的来说，JB4730较全面。对探头晶片尺寸，ASME在相关章节或B篇的应用标准中有规定。

JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.2.2.3  超声探伤仪和探头的系统性能
3.2.2.3.1  在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。
3.2.2.3.2  仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±10%。
3.2.2.3.3  仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，宽度不大于15mm。
3.2.2.3.4  直探头的远场分辨力应不小于30dB，斜探头的远场分辨力应不小于6dB。
3.2.2.3.5  仪器和探头的系统性能应按JB/T 9214和JB/T 10062的规定进行测试。
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
对应条款：没有。

JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.3  超声检测一般方法
3.3.1  检测准备
3.3.1.1  承压设备的制造安装和在用检验中，检测时机及抽检率的选择等应按法规、产品标准及有关技术文件的要求和原则进行。
3.3.1.2  检测面的确定，应保证工件被检部分均能得到充分检查。
3.3.1.3  焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-471.1，T-471.5
【2】相关技术内容: ASME规定：（1）通过探头以扫查整个检验体积。（2）当母材或焊缝表面影响检验时，应按要求对母材或焊缝予以处理使检验能够进行。
【3】简要评述：关于检测时机和抽检率，ASME在第V卷中没有涉及，在其它相关制造卷中有规定。
JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.3.2  扫查覆盖率
    为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-471.1
【2】相关技术内容: ASME规定：在平行扫查方向上，每个探头的扫查路径应重叠，其范围至少为换能器（压电晶体）垂直于扫查方向尺寸的10%。
【3】简要评述：ASME的规定比JB4730的要求低，但ASME的叙述较严密，指明重叠应是垂直于扫查方向晶片尺寸的10%。
JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.3.3  探头的移动速度
    探头的扫查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-471.3
【2】相关技术内容: ASME规定：a)探头扫查速度应不超过150mm/秒，但满足下列（b）、（c）要求时不受此限。b)超声仪器脉冲重复频率满足：探头以最大速度扫查时，在移动平行于扫查方向晶片尺寸一半的时间内，至少触发探头6次。c)在多个反射体上作动态校准时，动态校准在静态校准的±2dB之内并且脉冲重叠频率满足T-471.2的要求（见下条对比内容）。
【3】简要评述：ASME对探头移动速度的规定与JB4730相同。另外，ASME还对仪器的重复频率和动态校准作出了详细的规定，更具操作性。

JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.3.4  扫查灵敏度
扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。

主要修改内容：
① 扫查灵敏度
1994版：扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。
2005版：扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。
解释：关于灵敏度，1994版有扫查灵敏度、基准灵敏度和检测灵敏度等，检测灵敏度有时指扫查灵敏度，有时指基准灵敏度，含义不明确。2005版对此作了修改，基本上使用扫查灵敏度和基准灵敏度这两个术语，并对扫查灵敏度和基准灵敏度作了定义，即基准灵敏度一般指的是记录灵敏度，它通常用于缺陷的定量和等级评定。扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。
在JB4730中，扫查灵敏度有时等于基准灵敏度，有时高于基准灵敏度（如高6dB）。因此对该条文作了修改。

国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-471.4.1，T-471.4.2
【2】相关技术内容: ASME规定：a)距离波幅技术：扫查灵敏度应高于参考水平至少6dB。B)非距离波幅技术：用于扫查的增益水平应适合于被检验的结构并且以最大速度扫查时能探测到校验反射体。
【3】简要评述：扫查时，仪器显示的信号幅度要比静态时低，为了不漏检缺陷，扫查灵敏度要高于基准灵敏度（参考水平），ASME与JB4730的规定基本相同。
JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容
3.3.5  耦合剂
应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水等。
国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述
【1】对应条款：ASME2004-T-433，T-533
【2】相关技术内容: ASME规定：耦合剂不应对工件有损伤，用于镍基合金的耦合剂硫含量不应大于250ppm，用于奥氏体不锈钢、钛合金的耦合剂卤素（氯加氟）含量不大于250ppm。
【3】简要评述：与渗透剂一样，ASME规定了对耦合剂杂质含量的控制，目的在于防止硫、氯、氟等有害物质对工件的腐蚀。这一规定是2004版新增加的，符合世界标准的发展趋势。

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